此處所謂的「真空量測技術」指的是用來量測「真空系統內部壓力」的技術。真空系統內的壓力就是真空腔體內壁單位面積上所承受氣體分子的力,亦即真空系統中殘餘氣體壓力的分布程度。一般在描述系統真空度方面,多以低真空(low / rough vacuum )、高真空(high vacuum,HV)及超高真空(ultra-high vacuum,UHV)來表示不同的系統真空狀態。進深入了解量測真空壓力的方法前,我們需要先知道不同真空度所對應的壓力單位讀值及其相對應的氣體分子運動模式:
真空度及相對壓力單位(Torr) | 不同真空度中的氣體分子運動模式 |
一大氣壓(Atmospheric Pressure) 760 Torr |
|
低真空(Low Vacuum) 760 ~ 25 Torr |
黏滯流(viscous flow)
|
中真空(Medium Vacuum) 25 to 1×10−3 Torr |
過渡氣流(transition flow)
|
高真空(High Vacuum,HV) 1×10−3 to 1×10−9 Torr |
分子氣流(molecular flow)
|
超高真空(Ultra High Vacuum,UHV) 1×10−9 to 1×10−12 Torr |
有了前面對於真空度與其相對應的壓力範圍,以及對氣體分子運動類別的基本認識,接下來就可探討我們如何量測「真空」。若從今日我們所熟知的氣體性質來看真空量測的方式,大致可分為兩大類:
- 直接壓力測量
理論上壓力越高、氣體分子數量(密度)越高、氣體碰撞次數也越高,根據當代對於真空的定義:「真空就是一個容器內的壓力小於大氣壓力」,這裡所謂的「壓力」指的就是容器內單位面積所受的力。從氣體動力論來看這個定義,是指氣體對容器內壁所施加的壓力,而這也跟單位體積內之氣體分子密度、氣體之溫度有關。如何去量測氣體分子之熱速度作用於容器內壁所施加的力,就是這裡所謂的直接壓力測量。
在這個分類下,開發出諸如:壓力天平、液位壓力計、壓縮式真空計、彈性元件真空計等機械式真空計,而這些真空計適用的真空範圍約莫在1000 ~ 10-1 mbar(約莫是1330 ~ 0.133 Torr),可充分涵蓋大氣到低真空的範圍。但若要量測的範圍是在高真空或超高真空,就必須透過第二類的壓力量測方式來達成。
- 間接壓力測量
與第一類直接量測壓力相反,第二類量測方式是根據氣體與壓力相關的特性來量測,例如:熱導性(thermal conductivity)、游離機率(ionization probability)以及電導性(electrical conductivity)等。由於這類真空計不是直接量測單位面積所受的力,因此若產品說明書上沒特別註明時,這類真空記得讀值大多是以空氣或氮氣為參考依據,若要用於量測其他氣體時,需要根據相關修正係數來做修正。在這個分類下,有我們常見的派蘭尼式真空計(Pirani Gauge)、離子式真空計(Ion Gauge)、冷陰極真空計(Cold Cathode Gauge)等,下圖是這些常見真空計的適用工作壓力範圍。
鑑於科技演進(粒子物理學、表面分析等)對於真空度的要求越來越高,在此將特別針對常用於中真空到超高真空的量測方式來做介紹:
技術示意 | 技術說明 | |
派藍尼真空計(Pirani Gauge)
|
||
熱離子式真空計(Hot cathode ionization gauge)
|
||
冷陰極式真空計(Cold cathod gauge)
|